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高低温冲击试验箱(两箱式/提篮式)
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集成电路行业首选高低温冲击试验箱

文章来源: 发布时间:2017-04-19 14:21:11 浏览次数:1434

高低温冲击试验箱又名冷热冲击试验箱,产品主要用于工业产品或材料耐受高温-低温(极低温)、低温(极低温)-高温连续瞬间转换的可靠性试验,对半导体元器件、电工电子、航空航天、仪器仪表、橡胶、汽车零部件、船舶兵器、通讯行业、金属制品、高等院校、科研单位等的相关产品及材料在高温、低温(极低温)经受连续瞬间转换(循环)的情况下,检验其各项性能指标。重点考核材料在瞬间下经温度连续骤变环境下忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。设备适用试验类型:高低温冲击试验、高温试验、低温试验、极低温试验等。

详细

温度均匀性好,试验精度高

通过调风板可以进行风量、风速及风向的调整,保证空气循环通畅。外加样件表面温度控制选购功能,可确保样件温度到达时间的试验要求。

自动负载演算,合理调节系统输出

新开发节能模式可以持续地对设备的最短预热预冷工作时间进行自动演算,控制系统输出,大幅减少了电力消耗。

采用并列式冷冻系统配置

自主专利的无霜运转功能(选购件)

正常试验可保证500小时无霜运转,如果为15分钟曝露试验可以保证1,000个小时无霜工作

设计和技术参数(TCT系列)
型号 LS-TCT-401 LS-TCT-402 LS-TCT-403 LS-TCT-501 LS-TCT-502 LS-TCT-503 LS-TCT-601 LS-TCT-602 LS-TCT-603
箱体设计
提篮容积(升) 27 64 125 27 64 125 27 64 125
内箱尺寸
(mm)
宽(W) 300 400 500 300 400 500 300 400 500
高(H) 300 400 500 300 400 500 300 400 500
深(D) 300 400 500 300 400 500 300 400 500
外箱尺寸
(mm)
宽(W) 1180 1280 1380 1180 1280 1380 1180 1280 1380
高(H) 1850 1950 2050 1850 1950 2050 1850 1950 2050
深(D) 1800 1900 2000 1800 1900 2000 1800 1900 2000
温度试验参数
温度范围
热箱
+80~220 +80~220 +80~220
温度范围
冷箱
-10~-60 -20~-70 -30~-80
测试温度范围 -40~+150 -55~+150 -65~+150
温度波动度 ±0。5~1。0
温度均匀度 ±0.5~2.0
储温区
升温速率(平均)
℃/min 3~5
储温区
降温速率(平均)
℃/min 1
吊篮转换时间 sec ≤10
恢复时间 min ≤5
校准值
热箱
125 125 150
校准值
冷箱
-40 -55 -65
冷却方式 水冷或风冷
备注:
以上数据均在环境温度25℃、工作室无负载条件下测得。
温度和湿度值的数据采集是在测试室空载的状况下由传感器测得;
实际测量的温度值稳定在设定温度后,再进行温度波动的测量。
根据特殊使用要求可配置特殊电压;
执行标准依据IEC60068-3-5 在冷箱/热箱内预设更高或更低的温度,温度变化速率可以增加;
以上性能指标是在环境温度+25℃,额定电压380V,无负载,无选件,无热负载的情况下测得;
详情欢迎致电我司销售热线!

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